新設計的精致型原子力顯微鏡,多種模式,輕敲,接觸,力曲線,液相等多功能
干式mK系統,可替代更昂貴,更占用空間的稀釋制冷機(DR)
采用激光掃描技術的off-line型光學表面缺陷檢測與分類系統。
采用采用PEM相位調制技術,在142-2100 nm范圍內,可對薄膜、液體等材料的薄膜厚度和光學常數...
10nm以下空間分辨可見-紅外-拉曼成像與光譜采集
P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量,其掃描可達150mm而無需圖像拼接。
采用光譜反射技術實現nm到mm級薄膜厚度測量的單點光學膜厚測試系統。
LiteScope?將掃描探針顯微鏡集成到電子顯微鏡中,將互補的SPM技術和掃描電鏡技術相結合(CP...
NX10是易于使用的研究型原子力顯微鏡,0.03nm高精度